Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Scanning elektron-mikroskopi

  • Main
  • Scanning elektron-mikroskopi

Scanning elektron-mikroskopi

Hjelen, Jarle
0 / 5.0
0 comments
Наскільки Вам сподобалась ця книга?
Яка якість завантаженого файлу?
Скачайте книгу, щоб оцінити її якість
Яка якість скачаних файлів?
Рік:
1989
Видавництво:
Metallurgisk Institutt
Мова:
norwegian
Сторінки:
108
Файл:
PDF, 52.02 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
norwegian, 1989
Читати Онлайн
  • pdf 52.02 MB Current page
  • Checking other formats...
    • Розблокуйте контевтування файлів розміром більше 8 МБPremium
    Виконується конвертація в
    Конвертація в не вдалась

    Ключові фрази

     
    prøven
    elektroner
    tilbakespredte
    sekundærelektroner
    atomnummer
    prøve
    elektronene
    funksjon
    dersom
    energi
    element
    øker
    spredning
    standard
    akselerasjonsspenning
    detektoren
    midlere
    brudd
    elektronstrålen
    fraksjon
    prøveoverflaten
    generert
    oppløsning
    strålen
    skjematisk
    strømmen
    emitterte
    legering
    primærelektroner
    akselerasjonsspenningen
    oppløsningen
    primærelektronene
    tabell
    treffer
    zaf
    kontrast
    overflaten
    prøver
    røntgenstråling
    arbeidsavstanden
    avtar
    bølgelengde
    crt
    dermed
    diameter
    diffraksjonskontrast
    intensiteten
    lik
    signal
    øke
    antall
    detektor
    kondensorlinsen
    prøvens
    aluminium
    anvendes
    avstanden
    objektivlinsen
    økende
    faststoffdetektor