Advances in X-Ray Analysis: Volume 32
John V. Gilfrich (auth.), Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ron Jenkins, Ting C. Huang, Paul K. Predecki (eds.)Категорії:
Рік:
1989
Видавництво:
Springer US
Мова:
english
Сторінки:
665
ISBN 10:
1475791127
ISBN 13:
9781475791129
Файл:
PDF, 25.48 MB
IPFS:
,
english, 1989